對(duì)其滿(mǎn)足哪些標(biāo)準(zhǔn)和標(biāo)準(zhǔn)具體內(nèi)容就未必知道了，今天我們就來(lái)為您一一解析，希望可以幫助各位朋友：GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第1部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫：簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱兩類(lèi)試驗(yàn)樣品。對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)Aa和Ab不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)僅限于用來(lái)考核或確定電工、電子產(chǎn)品（包括件、設(shè)備及其他產(chǎn)品）在低溫環(huán)境條件下貯存和（或）使用的適應(yīng)性。這一低溫試驗(yàn)不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品對(duì)溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這種情況下，應(yīng)當(dāng)采用試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法。低溫試驗(yàn)方法分為以下三類(lèi):非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):——試驗(yàn)Aa:溫度突變——試驗(yàn)Ab:溫度漸變散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn):——試驗(yàn)Ad:溫度漸變本試驗(yàn)方法通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)開(kāi)始計(jì)算的。在特殊情況下，如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定，則試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱（室）達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時(shí)開(kāi)始計(jì)算。相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定:a）試驗(yàn)箱（室）內(nèi)溫度變化速率;b）試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱（室）的時(shí)間;c）試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)條件下暴露試驗(yàn)開(kāi)始的時(shí)間;d）試驗(yàn)樣品通電或加負(fù)載的時(shí)間。在這些條件下，相關(guān)規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T2424.1-1989導(dǎo)則選定以上4個(gè)參數(shù)（以上條件下的修訂正在考慮之中）。
        
GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫：簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)敘述的高溫試驗(yàn)適用于散熱和非散熱兩類(lèi)試驗(yàn)樣品。對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)Ba和Bb基本上不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。本高溫試驗(yàn)的目的僅限于確定件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用或貯存的適應(yīng)性。本高溫試驗(yàn)不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品的耐溫度變化性和在溫度變化期間的工作能力。在這種情況下。應(yīng)當(dāng)采用試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法。高溫試驗(yàn)方法分為:非散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn):試驗(yàn)Ba:溫度突變;試驗(yàn)Bb，溫度漸變。散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn):試驗(yàn)Bc:溫度突變;試驗(yàn)Bd:溫度漸變。本試驗(yàn)方法通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)開(kāi)始計(jì)算。在特殊情況下，如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定。則試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱（室）達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時(shí)開(kāi)始計(jì)算。相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定:a）試驗(yàn)箱（室）內(nèi)溫度變化速率;b）試驗(yàn)樣品放人試驗(yàn)箱（室）的時(shí)間;c）試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)條件下暴露開(kāi)始的時(shí)間;d）試驗(yàn)樣品通電或加負(fù)載的時(shí)間。對(duì)于這些情況，相關(guān)規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T2424.1-1989導(dǎo)則選定以上4個(gè)參數(shù)（包含以上這些情況的修正件在考慮之中）。
        
GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫試驗(yàn)設(shè)備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 （IEC68-2-1）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 （IEC68-2-2）
GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法
GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗(yàn)
GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》
GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
 
Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法（已作廢，被GB2423.3-2006替代） GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱方法：簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC60068-2-78：2001，規(guī)定了電工電子產(chǎn)品恒定濕熱試驗(yàn)的嚴(yán)酷等級(jí)，適用于散熱和非散熱樣品。本標(biāo)準(zhǔn)適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、儲(chǔ)存和運(yùn)輸時(shí)的適應(yīng)性。

           GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)

Db:交變濕熱試驗(yàn)方法：簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了交變濕熱試驗(yàn)的試驗(yàn)程序、嚴(yán)酷等級(jí)和對(duì)試驗(yàn)箱（室）的基本要求等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化、產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用和貯存的適應(yīng)性